期刊简介
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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
X射线线阵列探测器均匀性研究
作者： 陈敏聪 [1]
摘要： 实验测试了芬兰X-SCAN0.4f线阵列探测器在X射线扫描前后的成像均匀性。得出扫描前阵列探测器各单元的本底输出随时间的漂移规律和扫描后各单元对X射线的响应规律。结果发现阵列探测器各单元扫描前后的响应均存在不一致性。通过偏置和增益的校准虽然可以达到各单元响应的一致性,但没有真正解决各单元响应不一致的问题,这对定量计算会产生误差。用蒙特卡罗方法计算了不同厚度GOS闪烁晶体对不同能量入射光子的能量沉积效率和晶体阵列间的串扰,分析了可能引起不均匀性的原因之一的串扰问题。模拟结果给出了阵列单元间的串扰与晶体的尺寸和入射X射线的能量的定量关系,为下一步探测器结构的改进和软件的修正提供了依据。
关键字： X射线 GOS闪烁体 线阵列 均匀性 串扰 X-rays GOS crystal linear array uni