期刊简介
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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
EDXRF分析装置的角度布置对荧光计数率影响的蒙特卡罗模拟
作者： 张江云 [1] ; 黄宁 [1] ; 刘艳芳 [2] ; 张龙强 [1]
摘要： 在EDXRF分析中,X射线荧光计数率与待测元素种类和含量有密切关系。但X射线荧光计数率又与很多因素有关,其中X光管、样品和探测器的几何位置关系是一个重要的影响因素。为了设计较好计数率的能量色散型X荧光分析仪,采用MCNP4C程序,建立与实际相符的几何模型,模拟了不同入射角和出射角时的X荧光计数率,得到了X光管与样品、探测器与样品之间的最佳角度。所得结果与文献资料进行比较,其结果符合得很好。
关键字： EDXRF 计数率 MCNP4C 最佳角度 EDXRF Count rate MCNP4C The best angle