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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管,由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办,是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物,主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。 本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度,多年来一直...
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X射线非完整扫描情况下的缺陷检测研究

作者: 张顺利 [1,2] ; 张定华 [2] ; 程云勇 [2] ; 李小林 [1]

摘要: CT技术是一种先进的无损检测手段,被广泛应用于医学和工业领域。针对大型工业构件的无损检测问题,提出了一种X射线非完整扫描情况下的缺陷检测方法。在构件使用之前预先采集一套原始的非完整扫描投影数据,采用代数重建算法进行图像重建,将重建图像作为基准图像。再采集构件使用之后不同时刻的非完整扫描投影数据,将其重建图像与基准图像进行数字减影,通过减影图像即可清晰、直观地检测出缺陷。实验结果证明了该方法的有效性。


关键字: 工业CT     图像重建     代数重建法     数字减影     缺陷检测     industrial   computed   tomograp   


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