利用轫致辐射X射线进行正电子分析的研究
作者: 张翼 [1,2] ; 杨祎罡 [1,2] ; 李元景 [1,2] ; 赵新强 [3]
摘要: 针对现有的正电子分析方法无法分析材料内部缺陷的缺点,提出了一种新的正电子分析方法——光致正电子分析。利用加速器打靶产生的轫致辐射X射线照射样品,通过光子在材料内部发生的电子对效应来产生正电子,然后测量511keY湮没光子进行正电子分析。通过模拟计算定量研究了该方法用于正电子分析的灵敏度、屏蔽条件等问题;建立了一套实验系统,在该系统上成功实现了对511keV湮没光子能谱的精确测量,并在低碳钢样品的缺陷含量与测量结果之间得到了对应关系。
关键字: 正电子分析 轫致辐射X射线 电子对效应 缺陷检测 Positron analysis Bremsstrah
上一篇:一种基于FPGA的高精度单周期TDC设计
下一篇:最后一页