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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
用于中子单色器镶嵌分布测量的γ衍射装置的调试方法
作者： 杨尊勇 [1] ; 谢超美 [2] ; 王晓影 [2] ; 徐家云 [1] ; 姚振强 [1] ; 姚茂莹 [1] ; 王明秋 [1]
摘要： 用γ衍射方法可以分析中子单色器晶体的镶嵌分布。由于γ射线的波长短,满足布拉格衍射条件的入射角比通常X衍射的要小两个量级,加上晶体镶嵌分布需要较高的分辨率,因此要成功进行γ衍射实验,必须要求γ衍射装置各部分之间满足精细的几何布局,这只有通过正确的调试才能实现。在建立正确调试方法的基础上,通过仔细调试,用2 Ci的198Au的较低活度γ源,实现了用γ衍射方法对Ge单晶单色器镶嵌分布的测量,得到镶嵌分布的半宽度约为12＇,这一结果与期望值吻合。
关键字： 中子单色器 镶嵌分布 γ衍射 调试方法 neutron monochromator mosaic distribu