期刊简介
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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
中子小角散射谱仪Q分辨率计算和对形状因子影响分析
作者： 陈良 [1] ; 彭梅 [1] ; 王燕 [1] ; 孙良卫 [1] ; 陈波 [1]
摘要： 介绍了中子小角散射谱仪分辨率函数及其相关的Q标准差计算方法,分析了Q标准差有关谱仪的几何布局、中子的波长弥散对其的影响。介绍了一维Q分辨高斯函数计算方法。结合两个具体谱仪布局和一个理想实心球体的形状因子曲线,卷积得到了不同谱仪布局下形状因子的弥散曲线,对精确分析中子小角散射数据,应结合使用谱仪分辨率函数。
关键字： 中子小角散射谱仪 Q分辨率 形状因子 计算 分析 Small Angle Neutron Scatteri
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