期刊简介
投稿须知
《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
科学2#CCD抗辐照性能实验研究
作者： 赵大磊 [1,2] ; 吴岳雷 [1] ; 张博平 [1,3]
摘要： 介绍了用于辐射成像系统中关键部件科学2#CCD辐照考核实验的方法、实验装置以及该CCD辐照前后成像能力的变化,给出主要性能指标：CCD成像灰度,随辐照时间的变化函数曲线,在线获取了CCD在其辐射工作环境下其性能随时间变化情况。得出有关CCD抗辐照性能的初步结论。
关键字： CCD 辐照老化 中子成像 聚变诊断 CCD Radiation aging neutron imaging Fusion diagnosis