期刊简介
投稿须知
《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
直流读出的THGEM探测系统及其在X射线上的应用
作者： 陈石 [1,2] ; 刘宏邦 [1,2] ; 郑阳恒 [1] ; 谢一冈 [1,3] ; 阮向东 [2] ; 王焕华 [3] ; 陈雨 [3] ; 俞伯祥 [3] ; 唐爱松 [4] ; 杨亚聃 [4] ; 董洋 [4] ; 李敏 [4]
摘要： THGEM是一种新型的具有计数率高、抗辐射、高增益和相对价廉等优点的气体探测器。采用适合实时记录多路多次信号累积效应的直流读出模式的THGEM探测系统测量了X射线的绝对强度及其相对强度的二维空间分布,并对多路成像效应进行了初步的探索。
关键字： THGEM 直流模式 多路读出X射线 绝对强度 THGEM direct current mode multi-ch
上一篇：中子衍射应力分析谱仪模拟实验
下一篇：最后一页