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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
能量色散型X荧光分析仪光管、样品、探测器距离的蒙特卡罗优化
作者： 刘艳芳 [1] ; 赖万昌 [1] ; 谢希成 [1] ; 张江云 [2] ; 周良平 [1]
摘要： 在EDXRF分析中,X射线荧光计数率与待测元素有密切关系。由理论可知,在能量色散型X荧光分析仪设计时,优化X光管、样品和探测器的相对几何位置对荧光计数率的改善有很大的帮助。在前期模拟的最佳角度基础上,采用MCNP程序,建立几何模型,模拟了X光管、样品和探测器之间不同距离时的X荧光计数率,得到了这三者之间的最佳距离。
关键字： EDXRF 计数率 最佳距离 EDXRF count rate best distance