期刊简介
投稿须知
《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管,由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办,是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物,主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。 本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度,多年来一直...
当前位置:首页 > 期刊导读 > 2011 > 09 > 正文

中子通量测量的质子反冲望远镜

作者: 陈静 [1] ; 郑普 [1] ; 陈渊 [1]

摘要: 研制了用于测量D-T中子通量的质子反冲闪烁望远镜,望远镜由二个对带电粒子响应的半导体探测器(ΔE)和一个CsI(Tl)闪烁探测器(E)组成。利用脉冲形状甄别技术抑制CsI闪烁探测器的γ射线本底,ΔE探测器的高偏压对提高信噪比是重要的。二个ΔE探测器和一个E探测器实现了三重符合。在三重符合条件下,通过有、无辐射体的测量得到了净的反冲质子脉冲幅度分布。CH2辐射体60mg·cm^-2并距中子源30 cm时,望远镜效率为1.97×10^-7。


关键字: 辐射体     ΔE半导体探测器     三重符合     质子反冲望远镜     Radiator     ΔE   semiconductor   


上一篇:基于PAnySimu的PWR核电站堆芯建模与仿真研究
下一篇:G-M计数管用作辐射剂量测量应解决的问题