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基于NINO芯片的TOT读出电子学系统的研究
作者： 秦熙 [1,2] ; 刘树彬 [1,2] ; 安琪 [1,2]
摘要：介绍了CERN设计的一款基于过阈时间法（Time-Over-Threshold）的ASIC芯片——NINO,并列出了一些基于NINO芯片设计的测试板的测试结果,用于评估该芯片在BES III端盖TOF升级及在中子管位置灵敏探测器中的位置测量中应用的可能性。NINO芯片8通道高度集成,对实验电路板的设计和测试表明,其噪声抖动低（前沿噪声抖动约5.1 ps）,可以满足TOT方法中高精度时间测量的要求。
关键字： NINO 放大甄别 TOT 低噪声
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