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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
X射线横向移动成像法识别土壤中物体的蒙特卡罗模拟
作者： 朱鹏飞 [1] ; 叶雁 [1] ; 朱巍 [1] ; 李军 [1] ; 罗振雄 [1]
摘要： X射线横向移动成像是一种新的散射成像方法,直接利用大面积探测器分开探测单次和多次散射光子强度来识别被覆盖物体的组成类型、尺寸和浅表面缺陷等,法已被用于地雷探测。利用蒙特卡罗模拟软件MCNP5分别模拟了覆盖于土壤中的不同横向面积的铁、TNT以及含空气缺陷的TNT中X光子的散射过程。根据模拟结果分析了两类探测器上散射光子的强度与被测物等效原子序数和尺寸之间的关系,这些关系构成了利用X射线横向移动散射法识别物体的依据,初步给出了利用该方法识别土壤中物体需要满足的条件及其识别能力。
关键字： X射线 散射横向移动成像 蒙特卡罗 MCNP5 X-ray backscatter LMR Monte Carlo MCNP5