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《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
EDXRF法测定V—Ta合金中Ta含量
作者： 刘露 余春荣 赵建龙 肖吉群 王雯 高戈 中国工程物理研究院材料研究所 四川江油621907
摘要：为适应新型合金材料（V—Ta合金）研制的需要，建立了甩能量色散x射线荧光光谱（EDXRF）法测定V—Ta合金中Ta含量的分析方法。该方法将溶鳃的V—Ta合金切屑样制成滤纸片试样，用能量色散x射线荧光光谱仪测定其Ta含量。该方法简便、快速，测定Ta含量在25％。加％范围内的样品时，其测量结果的相对标准偏差（n=6）不大于1％。
关键字： V—Ta合金 EDXRF法 Ta含量