期刊简介
投稿须知
《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管，由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办，是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物，主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度，多年来一直...
双层模型法仿真探测通道参数漂移
作者：彭亚娜 黄洪全 蒋开明 马兴科
摘要：针对放射性测量中探测通道参数的漂移问题,采用双层模型法对探测通逍的状态进行仿真,通过状态变迁的控制和设置,借助能谱的漂移来逼真地仿真探测通道参数的漂移现象。并结合X射线能谱的具体实例.有效地运用该方法进行了漂移过程的仿真。实验结果表明:该方法能高效地实现漂移现象的多样性、灵活性和一致性,为能谱解析及修正方法提供丰富的实验数据,是教学与科研中能有效利用的探测通道参数漂移仿真方法。
关键字：漂移 探测通道 双层模型 仿真
上一篇：核辐射探测器模拟电路混合故障智能诊断与定位
下一篇：小面积表面污染测量方法研究