CMOS硅像素探测器测试系统设计
作者: 高万东 [1,2,3] ; 王科 [2,3] ; 王娜 [2,3] ; 朱宏博 [2,3] ; 孙俊峰 [1]
摘要: 针对环形正负电子对撞机(CEPC)最内层的顶点探测器而研制的CMOS硅像素探测器已经提交首次流片。为了采集探测器的数据进而研究前端芯片的性能,基于现场可编程逻辑门阵列(FPGA)设计高速数据传输的测试系统,该系统以PCIExpress总线模式进行高速传输数据。对系统性能的测试表明:数据传输速度能达到6Gb/s,传输的数据量和误码率性能均满足CMOS硅像素探测器芯片的测试要求。
关键字: CMOS硅像素探测器 高速数据传输 PCI Express FPGA CMOS pixels sensor high