期刊简介
投稿须知
《核电子学与探测技术》系中国核工业集团公司主管,由中国核工业集团公司北京核仪器厂主办,是中国核学会、中国电子学会所属核电子学与核探测技术分会会刊。本刊为专业学术性刊物,主要刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象主要为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。 本刊一直在核仪器、核电子学与核探测领域保持着较高的声誉和知名度,多年来一直...
当前位置:首页 > 期刊导读 > 2011 > 02 > 正文

通用数控平台下的工业CT运动控制技术

作者: 程森林 [1,2] ; 汪洋 [2]

摘要: 针对目前工业CT扫描方式多、速度快,对运动位置与数据采集同步控制精度要求高的特点,提出了一种用高精度多轴数控系统来实现工业CT运动控制的技术,研究了二代、三代CT扫描运动的控制方法,实现了扫描参数的灵活设置与网络控制。通过对实际的二、三代扫描过程的仿真,旋转轴的控制精度达到0.001°,直线轴的控制精度达到0.002mm。实际测试表明,该控制技术能满足CT扫描过程中的多轴联动以及对数据采集同步控制的要求,具有较高的控制精度和较好的实时性。


关键字: 工业CT     扫描运动     SINUMERIK     840D     控制精度     industrial   CT     scanning   motion     S   


上一篇:诱发单粒子多位翻转的电荷分享研究
下一篇:阈值监测技术在禁核试地震台网监测能力评估中的应用